MSARR-S

Monitorowanie stabilności i zdolności systemów pomiarowych za pomocą kart kontrolnych SPC

Oferta archiwalna

Statystyczne narzędzia jakości

Cele szkolenia

Zdobycie umiejętności stosowania podstawowych kart kontrolnych SPC do monitorowania stabilności systemów pomiarowych (wg wytycznych MSA - Measurement System Analysis, AIAG, 4th Edition, 2010) dla właściwości mierzalnych.
Uzyskanie umiejętności określania wskaźników zdolności systemów pomiarowych na podstawie kart kontrolnych.
Uzyskanie świadomości permanentnego wpływu stabilności systemu pomiarowego na ryzyko błędnych decyzji dotyczących akceptacji wyrobu oraz oceny stabilności i zdolności procesu produkcyjnego.
Zdobycie wiedzy pozwalającej na ocenę zastępowalności tradycyjnych metod MSA kartami kontrolnymi SPC monitorującymi stabilność systemów (procesów) pomiarowych używanych w procesach produkcyjnych i kontrolnych.

Symbol szkolenia

MSARR-S

Terminy i miejsce

Dokumenty do pobrania

Karta zgłoszeń Katalog szkoleń otwartych TQMsoft 2024 I

Szacunkowy udział części praktycznej: 75%

Czas trwania: 2 dni po 8 godz.

Program i ćwiczenia

?1. Zdolność i stabilność procesu produkcyjnego oraz systemu / procesu pomiarowego (powtórka):

przyczyny i składniki zmienności wyników pomiarów (przyczyny normalne i specjalne, PV, EV, AV, R&R, bias),
zdolność a stabilność procesu / systemu,
skutki błędów pomiaru dla kontroli jakości i dla sterowania procesem, błędy I i II rodzaju,
zdolność krótkoterminowa (capability) a długoterminowa (performance), wskaźniki Cp, Cpk, Pp, Ppk,
karty kontrolne SPC Shewharta: cele, konstrukcja karty, symptomy niestabilności procesu,
zdolność systemu pomiarowego, wskaźniki %Re, Cg, Cgk, %EV, %AV, %R&R, %PV, ndc,
prezentacja graficzna wyników analiz R&R.

2. Monitorowanie stabilności procesu (systemu) pomiarowego za pomocą karty pojedynczych pomiarów i ruchomego rozstępu (X-mR), karty średniej i rozstępu (Xśr-R), karty średniej i odchylenia standardowego (Xśr-S) oraz karty odchyłek i rozstępu (Z-R):

wybór karty,
zapewnienie stanowiska (wyrób wzorcowy / wzorzec, metoda pomiarowa, warunki, personel, zapisy),
projekt karty: wyznaczanie granic kontrolnych metodą stabilizacyjną i projektową, zgodnie z zasadami SPC i MSA,
prowadzenie karty, interpretacja sygnałów,
prowadzenie więcej niż jednej karty kontrolnej (wykresu kontrolnego) dla systemu pomiarowego – dla kilku wartości charakterystyki w zakresie tolerancji, dla kilku charakterystyk,
postępowanie w przypadku wymiany przyrządu pomiarowego na stanowisku.

3. Szacowanie wskaźników zdolności systemów pomiarowych na podstawie kart kontrolnych:

ocena błędu systematycznego (bias) i powtarzalności (wskaźniki Cg, Cgk, %EV), ocena błędu systematycznego za pomocą testu statystycznego (Bias Study wg MSA-4),
ocena powtarzalności i odtwarzalności (wskaźniki %EV, %AV, %R&R, ndc).

Ćwiczenia:

procedura typ-1: Cg, Cgk – ocena krótkoterminowej stabilności przyrządu – analiza przypadku (powtórka),
procedura typ-2: analiza R&R – ocena krótkoterminowej stabilności systemu pomiarowego - analiza przypadku (powtórka),
nadzorowanie stabilności systemu (procesu) pomiarowego za pomocą kart kontrolnych X-mR, Xśr-R, Xśr-S, Z-R (analizy przypadków na podstawie symulowanych danych oraz samodzielne pomiary kontrolne):
-   wyznaczenie granic kontrolnych metodą stabilizacyjną,
-   wyznaczenie granic kontrolnych metodą projektową (na podstawie posiadanej lub wymaganej zdolności),
-   prowadzenie karty,
-   interpretacja przebiegu wykresu kontrolnego,
-   szacowanie wskaźników zdolności za wybrany okres użytkowania systemu pomiarowego.

Uwaga: w ramach ćwiczeń może zostać wykonana analiza dla systemu pomiarowego dostarczonego na szkolenie przez Uczestników – wymagany wcześniejszy kontakt z trenerem w celu ustalenia szczegółów technicznych.

Korzyści dla uczestnika

?Uczestnik nauczy się:

dobierać kartę kontrolną do nadzorowania danego systemu pomiarowego,
dobierać granice kontrolne metodą stabilizacyjną lub projektową, zgodnie z regułami SPC i MSA,
prowadzić kartę stabilności dla systemu pomiarowego,
szacować i oceniać błąd statystyczny przyrządu pomiarowego („bias”) na podstawie karty kontrolnej,
określać wskaźniki Cg, Cgk na podstawie karty kontrolnej,
szacować i oceniać błąd przypadkowy systemu pomiarowego (powtarzalność przyrządu EV, odtwarzalność wyników AV) na podstawie karty kontrolnej,
określać wskaźniki zdolności systemu pomiarowego (%EV, %AV, %R&R, ndc) na podstawie karty kontrolnej,
kwalifikować (rekwalifikować) system pomiarowy do wykonywania zadań w kontroli jakości i/lub sterowaniu procesem na podstawie okresowej oceny przebiegu karty kontrolnej,
nadzorować i oceniać kwalifikacje pomiarowe personelu (i ich ewentualną zmienność) na podstawie karty kontrolnej.

Uczestnik dowie się:

co oznacza stabilny i zdolny system pomiarowy i dlaczego jest to ważne,
jakie korzyści płyną z nadzorowania stabilności systemu (procesu) pomiarowego za pomocą kart kontrolnych,
w jaki sposób założyć i prowadzić w/w karty kontrolne stabilności i czy mogą one stanowić także dowód zdolności systemu pomiarowego,
w jaki sposób przygotowywać personel i niezbędne wyposażenie do prowadzenia kart stabilności systemu (procesu) pomiarowego,
w jaki sposób szybko i skutecznie identyfikować momenty utraty przez system pomiarowy oczekiwanych własności metrologicznych i w ten sposób przeciwdziałać nadmiernym, nieakceptowalnym błędom pomiarów, które mogą doprowadzić do akceptacji wyrobu niezgodnego i poważnej reklamacji klienta,
jakie są możliwości interpretacji przebiegu karty kontrolnej pod kątem identyfikacji przyczyn niestabilności (nadmiernych błędów) systemu pomiarowego w celu zaplanowania trafnych działań korygujących,
jakie są dodatkowe możliwości rozszerzenia karty kontrolnej na kilka wartości charakterystyki w obrębie jej przedziału tolerancji lub na kilka charakterystyk w obrębie zakresu pomiarowego przyrządu,
w jaki sposób karty stabilności systemów pomiarowych mogą pomóc w planowaniu MSA,
jak używać otrzymane arkusz obliczeniowe (xlsx).

Adresaci

?osoby odpowiedzialne za nadzór nad wyposażeniem kontrolno – pomiarowym,
osoby odpowiedzialne za dobór przyrządów do kontroli wyrobu / nadzorowania procesu,
pracownicy izb pomiarów i laboratoriów pomiarowych,
pracownicy działów jakości / kontroli jakości,
osoby uczestniczące lub prowadzące projekty Six-Sigma (Green Belt, Black Belt),
osoby odpowiedzialne za nowe projekty / wdrożenia nowych wyrobów do produkcji.

Dodatkowe informacje

Cena szkolenia obejmuje:

udział w szkoleniu,
materiały w formie papierowej, segregator, notatnik, długopis,
bezpłatny dostęp do elektronicznych materiałów szkoleniowych w systemie Biblioteka TQMsoft,
certyfikat uczestnictwa w szkoleniu,
możliwość bezpłatnych 3-miesięcznych konsultacji po szkoleniu, które realizowane są poprzez Panel Konsultacyjny,
obiady, przerwy kawowe oraz słodki poczęstunek

Wyślij e-mail

Share Share Tweet Share