Cele szkolenia

·       zdobycie umiejętności stosowania podstawowych kart kontrolnych SPC do monitorowania stabilności systemów pomiarowych (wg wytycznych MSA - Measurement System Analysis, AIAG, 4th Edition, 2010) dla właściwości mierzalnych,

·       uzyskanie umiejętności określania wskaźników zdolności systemów pomiarowych na podstawie kart kontrolnych,
·       uzyskanie świadomości permanentnego wpływu stabilności systemu pomiarowego na ryzyko błędnych decyzji dotyczących akceptacji wyrobu oraz oceny stabilności i zdolności procesu produkcyjnego,
·       zdobycie wiedzy pozwalającej na ocenę zastępowalności tradycyjnych metod MSA kartami kontrolnymi SPC monitorującymi stabilność systemów (procesów) pomiarowych używanych w procesach produkcyjnych i kontrolnych.

Termin i miejsce

Szacunkowy udział części praktycznej

75%

Symbol szkolenia

MSARR-S

Program i ćwiczenia

​1. Zdolność i stabilność procesu produkcyjnego oraz systemu / procesu pomiarowego (powtórka):

  • przyczyny i składniki zmienności wyników pomiarów (przyczyny normalne i specjalne, PV, EV, AV, R&R, bias),
  • zdolność a stabilność procesu / systemu,
  • skutki błędów pomiaru dla kontroli jakości i dla sterowania procesem, błędy I i II rodzaju,
  • zdolność krótkoterminowa (capability) a długoterminowa (performance), wskaźniki Cp, Cpk, Pp, Ppk,
  • karty kontrolne SPC Shewharta: cele, konstrukcja karty, symptomy niestabilności procesu,
  • zdolność systemu pomiarowego, wskaźniki %Re, Cg, Cgk, %EV, %AV, %R&R, %PV, ndc,
  • prezentacja graficzna wyników analiz R&R.

2. Monitorowanie stabilności procesu (systemu) pomiarowego za pomocą karty pojedynczych pomiarów i ruchomego rozstępu (X-mR), karty średniej i rozstępu (Xśr-R), karty średniej i odchylenia standardowego (Xśr-S) oraz karty odchyłek i rozstępu (Z-R):

  • wybór karty,
  • zapewnienie stanowiska (wyrób wzorcowy / wzorzec, metoda pomiarowa, warunki, personel, zapisy),
  • projekt karty: wyznaczanie granic kontrolnych metodą stabilizacyjną i projektową, zgodnie z zasadami SPC i MSA,
  • prowadzenie karty, interpretacja sygnałów,
  • prowadzenie więcej niż jednej karty kontrolnej (wykresu kontrolnego) dla systemu pomiarowego – dla kilku wartości charakterystyki w zakresie tolerancji, dla kilku charakterystyk,
  • postępowanie w przypadku wymiany przyrządu pomiarowego na stanowisku.

3. Szacowanie wskaźników zdolności systemów pomiarowych na podstawie kart kontrolnych:

  • ocena błędu systematycznego (bias) i powtarzalności (wskaźniki Cg, Cgk, %EV), ocena błędu systematycznego za pomocą testu statystycznego (Bias Study wg MSA-4),
  • ocena powtarzalności i odtwarzalności (wskaźniki %EV, %AV, %R&R, ndc).

Ćwiczenia:

  • procedura typ-1: Cg, Cgk – ocena krótkoterminowej stabilności przyrządu – analiza przypadku (powtórka),
  • procedura typ-2: analiza R&R – ocena krótkoterminowej stabilności systemu pomiarowego - analiza przypadku (powtórka),
  • nadzorowanie stabilności systemu (procesu) pomiarowego za pomocą kart kontrolnych X-mR, Xśr-R, Xśr-S, Z-R (analizy przypadków na podstawie symulowanych danych oraz samodzielne pomiary kontrolne):
    - wyznaczenie granic kontrolnych metodą stabilizacyjną,
    - wyznaczenie granic kontrolnych metodą projektową (na podstawie posiadanej lub wymaganej zdolności),
    - prowadzenie karty,
    - interpretacja przebiegu wykresu kontrolnego,
    - szacowanie wskaźników zdolności za wybrany okres użytkowania systemu pomiarowego.

Uwaga: w ramach ćwiczeń może zostać wykonana analiza dla systemu pomiarowego dostarczonego na szkolenie przez Uczestników – wymagany wcześniejszy kontakt z trenerem w celu ustalenia szczegółów technicznych.

Adresaci

  • ​osoby odpowiedzialne za nadzór nad wyposażeniem kontrolno – pomiarowym,
  • osoby odpowiedzialne za dobór przyrządów do kontroli wyrobu / nadzorowania procesu,
  • pracownicy izb pomiarów i laboratoriów pomiarowych,
  • pracownicy działów jakości / kontroli jakości,
  • osoby uczestniczące lub prowadzące projekty Six-Sigma (Green Belt, Black Belt),
  • osoby odpowiedzialne za nowe projekty / wdrożenia nowych wyrobów do produkcji.

Korzyści dla uczestnika

Uczestnik nauczy się:

  • dobierać kartę kontrolną do nadzorowania danego systemu pomiarowego,
  • dobierać granice kontrolne metodą stabilizacyjną lub projektową, zgodnie z regułami SPC i MSA,
  • prowadzić kartę stabilności dla systemu pomiarowego,
  • szacować i oceniać błąd statystyczny przyrządu pomiarowego („bias”) na podstawie karty kontrolnej,
  • określać wskaźniki Cg, Cgk na podstawie karty kontrolnej,
  • szacować i oceniać błąd przypadkowy systemu pomiarowego (powtarzalność przyrządu EV, odtwarzalność wyników AV) na podstawie karty kontrolnej,
  • określać wskaźniki zdolności systemu pomiarowego (%EV, %AV, %R&R, ndc) na podstawie karty kontrolnej,
  • kwalifikować (rekwalifikować) system pomiarowy do wykonywania zadań w kontroli jakości i/lub sterowaniu procesem na podstawie okresowej oceny przebiegu karty kontrolnej,
  • nadzorować i oceniać kwalifikacje pomiarowe personelu (i ich ewentualną zmienność) na podstawie karty kontrolnej.

Uczestnik dowie się:

  • co oznacza stabilny i zdolny system pomiarowy i dlaczego jest to ważne,
  • jakie korzyści płyną z nadzorowania stabilności systemu (procesu) pomiarowego za pomocą kart kontrolnych,
  • w jaki sposób założyć i prowadzić w/w karty kontrolne stabilności i czy mogą one stanowić także dowód zdolności systemu pomiarowego,
  • w jaki sposób przygotowywać personel i niezbędne wyposażenie do prowadzenia kart stabilności systemu (procesu) pomiarowego,
  • w jaki sposób szybko i skutecznie identyfikować momenty utraty przez system pomiarowy oczekiwanych własności metrologicznych i w ten sposób przeciwdziałać nadmiernym, nieakceptowalnym błędom pomiarów, które mogą doprowadzić do akceptacji wyrobu niezgodnego i poważnej reklamacji klienta,
  • jakie są możliwości interpretacji przebiegu karty kontrolnej pod kątem identyfikacji przyczyn niestabilności (nadmiernych błędów) systemu pomiarowego w celu zaplanowania trafnych działań korygujących,
  • jakie są dodatkowe możliwości rozszerzenia karty kontrolnej na kilka wartości charakterystyki w obrębie jej przedziału tolerancji lub na kilka charakterystyk w obrębie zakresu pomiarowego przyrządu,
  • w jaki sposób karty stabilności systemów pomiarowych mogą pomóc w planowaniu MSA,
  • jak używać otrzymane arkusz obliczeniowe (xlsx).

Informacje dodatkowe

Cena szkolenia obejmuje:

  • udział w szkoleniu,
  • materiały w formie papierowej, segregator, notatnik, długopis,
  • bezpłatny dostęp do elektronicznych materiałów szkoleniowych w systemie Biblioteka TQMsoft,
  • certyfikat uczestnictwa w szkoleniu,
  • możliwość bezpłatnych 3-miesięcznych konsultacji po szkoleniu, które realizowane są poprzez Panel Konsultacyjny,
  • obiady, przerwy kawowe oraz słodki poczęstunek