Analiza systemów pomiarowych dla właściwości mierzalnych
Cele szkolenia
Dla kogo?
osoby odpowiedzialne za nadzór nad wyposażeniem kontrolno – pomiarowym,
pracownicy izb pomiarów i laboratoriów pomiarowych,
osoby odpowiedzialne za dobór przyrządów do kontroli wyrobu / nadzorowania procesu,
pracownicy działów jakości / kontroli jakości,
auditorzy wewnętrzni, auditorzy II strony (dostawców), auditorzy III strony (certyfikujący) – szczególnie wg wymagań ISO/TS 16949,
osoby uczestniczące lub prowadzące projekty Six-Sigma (Green Belt, Black Belt).
Program szkolenia
1. Zdolność systemu pomiarowego:
- przyczyny zmienności wyników pomiarów, pojęcie błędu i niepewności pomiaru,
- niepewność pomiaru a podejmowanie decyzji w procesie produkcji,
- skutki błędów pomiaru dla kontroli jakości i dla sterowania procesem.
- niepoprawność wskazań (błąd systematyczny),
- powtarzalność i odtwarzalność (błędy przypadkowe),
- zmienność całkowita a zmienność własna procesu,
- rozdzielczość i rozróżnialność,
- wskaźniki zdolności: Cg, Cgk, %EV, %AV, %R&R, %PV, ndc,
- liniowość i stabilność systemu pomiarowego.
- procedura typu 1,
- procedura typu 2 (pełna – metoda rozstępów i średnich ARM),
- procedura typu 2 (uproszczona – metoda rozstępów RM),
- procedura typu 3.
- analiza R&R typ 2 metodą średnich i rozstępów – analiza przypadku,
- wyznaczanie i interpretacja współczynników zdolności Cg, Cgk – analiza typ 1 (samodzielne pomiary i interpretacja wyników),
- ocena zdolności przyrządu dla zadania pomiarowego typu „orzekanie zgodności ze specyfikacją” oraz do zastosowań w SPC (samodzielne pomiary i interpretacja wyników),
- analiza R&R typ 2 metodą średnich i rozstępów oraz metodą rozstępów,
- analiza graficzna wyników pomiarów – zaawansowane wnioskowanie o systemie pomiarowym.
Opcjonalnie, w zależności od zainteresowań Uczestników:
- analiza R&R typ 3 – analiza przypadku kontroli automatycznej,
- analiza stabilności systemu pomiarowego – karta kontrolna Xśr-R – analiza przypadku.
- w ramach ćwiczeń może zostać wykonana analiza R&R dla systemu pomiarowego dostarczonego na szkolenie przez Uczestników – wymagany wcześniejszy kontakt z trenerem,
- w przypadku przesłania przez Uczestnika nie później niż 14 dni przed szkoleniem opisu konkretnego problemu związanego z analizą R&R, w czasie ćwiczeń może odbyć się wspólna próba jego rozwiązania – wymagana pisemna zgoda Uczestnika na upublicznienie opisu problemu (bez nazw własnych).
Zastosowanie szkolenia
Analiza zdolności systemów pomiarowych stanowi istotne uzupełnienie okresowego sprawdzania / wzorcowania przyrządów. Pozwala ona na ocenę zdatności danego systemu pomiarowego do wykonywania zadania pomiarowego określonego przez: mierzoną właściwość (jej wartość, zmienność i tolerancję), umiejętności operatorów, warunki (zakłócenia) zewnętrzne oraz procedurę pomiarową. Wyniki analizy mogą przyczynić się do istotnej redukcji ryzyka reklamacji i kosztów braków dzięki identyfikacji systemów pomiarowych będących źródłem błędnych decyzjio zwolnieniu wyrobu (lub akceptacji procesu). Najczęściej stosowaną i najbardziej uniwersalną metodą oceny zdolności systemów pomiarowych jest analiza „R&R”.
Korzyści dla firmy
W przypadku wykorzystania poznanej metody:
istotne zmniejszenie ryzyka wysłania do klienta wyrobu niezgodnego z powodu błędnych decyzji kontrolnych,
zmniejszenie ryzyka błędnych decyzji dotyczących stanu procesu (sterowania procesem),
zdobycie umiejętności pozwalających na samodzielne prowadzenie analiz R&R oraz dogłębną interpretację wyników nastawioną na planowanie trafnych działań korygujących,
poznanie efektywnej, empirycznej metody szacowania niepewności pomiaru,
możliwość weryfikacji poprawności doboru środków pomiarowych, szczególnie dla zadań pomiarowych związanych z dużym ryzykiem kosztów niezgodności,
zapoznanie się z możliwościami wspomagania komputerowego w zakresie analizy zdolności systemów pomiarowych – możliwość bezpłatnego uzyskania arkuszy obliczeniowych używanych w czasie szkolenia.?
Informacje dodatkowe
Szkolenie prowadzone zdalnie poprzez sesję wideokonferencji on-line z wykorzystaniem dedykowanych narzędzi.
Uczestnicy dostają link do otwarcia sesji. Materiały dostępne w wersji elektronicznej.
Trenerzy
Cele szkolenia
Dla kogo?
- osoby odpowiedzialne za nadzór nad wyposażeniem kontrolno – pomiarowym,
- pracownicy izb pomiarów i laboratoriów pomiarowych,
- osoby odpowiedzialne za dobór przyrządów do kontroli wyrobu / nadzorowania procesu,
- pracownicy działów jakości / kontroli jakości,
- auditorzy wewnętrzni, auditorzy II strony (dostawców), auditorzy III strony (certyfikujący) – szczególnie wg wymagań ISO/TS 16949,
- osoby uczestniczące lub prowadzące projekty Six-Sigma (Green Belt, Black Belt).
Program szkolenia
1. Zdolność systemu pomiarowego:
- przyczyny zmienności wyników pomiarów, pojęcie błędu i niepewności pomiaru,
- niepewność pomiaru a podejmowanie decyzji w procesie produkcji,
- skutki błędów pomiaru dla kontroli jakości i dla sterowania procesem.
2. Opis zdolności systemów pomiarowych. 3. Definicje i interpretacja:
- niepoprawność wskazań (błąd systematyczny),
- powtarzalność i odtwarzalność (błędy przypadkowe),
- zmienność całkowita a zmienność własna procesu,
- rozdzielczość i rozróżnialność,
- wskaźniki zdolności: Cg, Cgk, %EV, %AV, %R&R, %PV, ndc,
- liniowość i stabilność systemu pomiarowego.
4. Ocena zdolności systemów pomiarowych dla zadań pomiarowych związanych z kontrolą jakości lub sterowaniem procesem – wymagania. 5. Metodologia badań zdolności systemów pomiarowych za pomocą analizy R&R:
- procedura typu 1,
- procedura typu 2 (pełna – metoda rozstępów i średnich ARM),
- procedura typu 2 (uproszczona – metoda rozstępów RM),
- procedura typu 3.
6. Graficzna prezentacja wyników analizy R&R. Ćwiczenia:
- analiza R&R typ 2 metodą średnich i rozstępów – analiza przypadku,
- wyznaczanie i interpretacja współczynników zdolności Cg, Cgk – analiza typ 1 (samodzielne pomiary i interpretacja wyników),
- ocena zdolności przyrządu dla zadania pomiarowego typu „orzekanie zgodności ze specyfikacją” oraz do zastosowań w SPC (samodzielne pomiary i interpretacja wyników),
- analiza R&R typ 2 metodą średnich i rozstępów oraz metodą rozstępów,
- analiza graficzna wyników pomiarów – zaawansowane wnioskowanie o systemie pomiarowym.
Opcjonalnie, w zależności od zainteresowań Uczestników:
- analiza R&R typ 3 – analiza przypadku kontroli automatycznej,
- analiza stabilności systemu pomiarowego – karta kontrolna Xśr-R – analiza przypadku.
Uwagi:
- w ramach ćwiczeń może zostać wykonana analiza R&R dla systemu pomiarowego dostarczonego na szkolenie przez Uczestników – wymagany wcześniejszy kontakt z trenerem,
- w przypadku przesłania przez Uczestnika nie później niż 14 dni przed szkoleniem opisu konkretnego problemu związanego z analizą R&R, w czasie ćwiczeń może odbyć się wspólna próba jego rozwiązania – wymagana pisemna zgoda Uczestnika na upublicznienie opisu problemu (bez nazw własnych).
Zastosowanie szkolenia
Analiza zdolności systemów pomiarowych stanowi istotne uzupełnienie okresowego sprawdzania / wzorcowania przyrządów. Pozwala ona na ocenę zdatności danego systemu pomiarowego do wykonywania zadania pomiarowego określonego przez: mierzoną właściwość (jej wartość, zmienność i tolerancję), umiejętności operatorów, warunki (zakłócenia) zewnętrzne oraz procedurę pomiarową. Wyniki analizy mogą przyczynić się do istotnej redukcji ryzyka reklamacji i kosztów braków dzięki identyfikacji systemów pomiarowych będących źródłem błędnych decyzji o zwolnieniu wyrobu (lub akceptacji procesu). Najczęściej stosowaną i najbardziej uniwersalną metodą oceny zdolności systemów pomiarowych jest analiza „R&R”.
Korzyści dla firmy
W przypadku wykorzystania poznanej metody: istotne zmniejszenie ryzyka wysłania do klienta wyrobu niezgodnego z powodu błędnych decyzji kontrolnych, zmniejszenie ryzyka błędnych decyzji dotyczących stanu procesu (sterowania procesem), zdobycie umiejętności pozwalających na samodzielne prowadzenie analiz R&R oraz dogłębną interpretację wyników nastawioną na planowanie trafnych działań korygujących, poznanie efektywnej, empirycznej metody szacowania niepewności pomiaru, możliwość weryfikacji poprawności doboru środków pomiarowych, szczególnie dla zadań pomiarowych związanych z dużym ryzykiem kosztów niezgodności, zapoznanie się z możliwościami wspomagania komputerowego w zakresie analizy zdolności systemów pomiarowych – możliwość bezpłatnego uzyskania arkuszy obliczeniowych używanych w czasie szkolenia.
Informacje dodatkowe
Cena szkolenia obejmuje:
- udział w szkoleniu,
- materiały w formie papierowej, segregator, notatnik, długopis,
- bezpłatny dostęp do elektronicznych materiałów szkoleniowych,
- certyfikat uczestnictwa w szkoleniu,
- możliwość bezpłatnych 3-miesięcznych konsultacji po szkoleniu,
- obiady, przerwy kawowe oraz słodki poczęstunek
Trenerzy
Wybierz rodzaj szkolenia
Wybierz termin szkolenia
Brak dostępnych terminów
Cena szkolenia
Pomyślnie dodano do koszyka
Analiza systemów pomiarowych dla właściwości mierzalnych
Wybierz pokrewne
Six Sigma - poziom Green Belt zjazd II
Symbol: 6S-GB II
Zobacz szkolenie
Analiza systemów pomiarowych - metoda R&R dla pomiarów niepowtarzalnych
Symbol: MSARR-N
Zobacz szkolenieWprowadzenie do wdrożenia pomiarów 3D na hali produkcyjnej
Symbol: POM-3D
Zobacz szkolenie
Pomiary na maszynach współrzędnościowych
Symbol: POM-CMM
Zobacz szkolenieOpinie
Masz pytania do tego szkolenia?
Skonsultuj się z naszym doradcą.