Statystyczne sterowanie procesem SPC – poziom zaawansowany

1. Wprowadzenie, powtórka wiadomości z zakresu podstawowego SPC.

• Podstawy SPC - pojęcia procesu stabilnego (pod kontrolą) i rozregulowanego (poza kontrolą) w znaczeniu statystycznym, statystyczny opis zbioru danych, identyfikacja wyników izolowanych (testy Grubasa, Dixona, Hampela), testy normalności (graficzny, Andersona-Darlinga, inne), ocena zdolności procesu, konstrukcja i posługiwanie się kartami kontrolnymi Shewharta.
• Klasyfikacja zachowania się procesów ze względu na zmienność wg ISO 21747:2006 (wcześniej DIN 55319), ISO 22514-2:2017.

2. Szczegółowa analiza zdolności procesu.

• Przedziały tolerancji naturalnej procesu – wyznaczanie, interpretacja.
• Przegląd strategii oceny współczynników zdolności jakościowej procesu: Cp, Cpk, Pp, Ppk – obliczanie, dokładność oceny (przedziały ufności) i interpretacja. 
• Zależności pomiędzy współczynnikami Cp, Cpk, Pp, Ppk.
• Współczynniki zdolności maszyny Cm, Cmk (Pm, Pmk).
• Współczynniki zdolności procesu/maszyny w przypadku niesymetrycznych granic specyfikacji.
• Wyznaczanie i interpretacja współczynników zdolności w przypadku rozkładów innych od rozkładu normalnego – metody transformacji rozkładu (transformacje Boxa-Coxa, Johnsona), metoda percentylowa, inne metody.
• Współczynnik drugiej generacji Cmk.
• Funkcja straty Taguchiego.
• Relacja pomiędzy współczynnikami zdolności a frakcją realizacji poza granicami specyfikacji i sigmową skalą jakości (Six Sigma).
• Wpływ zmienności systemu pomiarowego na wyniki oceny zdolności procesu.
• Ocena zdolności procesu w przypadku oceny alternatywnej.

3. Karty kontrolne.

• Czułość kart kontrolnych – dobór liczności próbki, dobór częstości próbkowania, średnia długość przebiegu (ARL), średni czas do zarejestrowania sygnału (ATS).
• Karta kontrolna dla procesów z trendem (np. zużywanie się narzędzia), karta ruchomej średniej (MA), karta wykładniczo ważonej ruchomej średniej (EWMA), karta sum skumulowanych (CUSUM), karta kontrolna z poszerzonymi liniami (dla procesów z Cpk powyżej 1,6), karta kontrolna akceptacji procesu – wyznaczanie linii kontrolnych, właściwy dobór parametrów, interpretacja (czytanie karty), karty kontrolne z autokorelacją danych.
• Porównania innych kart kontrolnych z kartami kontrolnymi Shewharta.
• Klasyczne karty kontrolne (Shewharta) w przypadku zmiennej liczności próbki.
• Karty w przypadku oceny alternatywnej - karta kontrolna ważonej liczby niezgodności na jednostkę – konstrukcja, interpretacja.
• Karty kontrolne w przypadku bardzo dobrych poziomów jakości.

4. Wybrane karty kontrolne w przypadku krótkich serii.

• Kontrola wstępna – prekontrola, konstrukcja i opis „tęczowej” karty, karta odchyleń od wartości nominalnej (DNOM), karty standaryzowane – konstrukcja, interpretacja.

5. Wzajemne relacje pomiędzy SPC a nadzorowaniem aparatury kontrolno-pomiarowej (MSA).

• Współczynniki zdolności systemu pomiarowego Cg, Cgk, oznaki niedostatecznej czułości systemu pomiarowego.

Ćwiczenia:

• SPC podstawowe – przypomnienie. Obliczanie spodziewanej frakcji realizacji poza granicami specyfikacji, ocena podstawowych współczynników zdolności procesu, konstrukcja i posługiwanie się kartami kontrolnymi Shewharta.
• Wyznaczanie przedziałów tolerancji naturalnej procesu – rozkład normalny, rozkład inny od normalnego.
• Wyznaczanie współczynników zdolności procesu w przypadku rozkładów innych od rozkładu normalnego (metoda percentylowa), dobór najlepiej pasującego rozkładu, wyznaczanie współczynników zdolności w przypadku niesymetrycznych granic specyfikacji, wyznaczanie przedziałów ufności dla współczynników zdolności.
• Konstrukcja kart kontrolnych MA, EWMA, analiza porównawcza z kartami kontrolnymi Shewharta.
• Konstrukcja i interpretacja karty prekontroli, konstrukcja i interpretacja karty odchyleń od wartości nominalnej DNOM.

Zalecenia dla Uczestników:
Znajomość metod SPC na poziomie podstawowym.