Cele szkolenia

• Opracowanie i wdrożenie procedur KJ dla wielkości geometrycznych od momentu wyboru charakterystyk na podstawie rysunku poprzez dobór sprzętu pomiarowego i jego walidację po przygotowanie planu kontroli wraz z instrukcją kontroli.

Termin i miejsce

Szacunkowy udział części praktycznej

80%

Czas trwania

2 dni po 7 godz.

Symbol szkolenia

PPK-W

Program i ćwiczenia

1. Źródła błędów i zmienności w pomiarach, metody ich eliminacji i kompensacji.
2. Wymagania i wytyczne przy doborze przyrządów pomiarowych.
3. Walidacja systemów pomiarowych dla charakterystyk mierzalnych i dyskretnych, zdolność systemu pomiarowego.
4. Ocena przydatności procesu/procedury pomiarowej dla danego zadania pomiarowego.
5. Opracowanie dokumentacji związanej z pomiarem (plan kontroli, isntrukcja kontroli, zapisy).
6. Ocena systemu pomiarowego pod kątem kontroli, statystycznego sterowania procesem czy nowych projektów.

Ćwiczenia:

  • Dobór przyrządu pomiarowego na podstawie wstępnych założeń, rysunku i oceny ryzyka dla kontroli.
  • Modelowanie pomiaru i ocena przydatności procesu pomiarowego dla danego zadania pomiarowego.
  • Opracowanie planu kontroli, instrukcji kontroli i zapisów.
  • Wyznaczanie i interpretacja współczynnika zdolności systemy pomiarowego Cg/Cgk - pomiary na wzorcu i „skalibrowanej sztuce produkcyjnej”, wyznaczanie zdolności, interpretacja uzyskanych wyników.
  • Wpływ rozróżnialności (rozdzielczości) przyrządu pomiarowego na zdolność systemu pomiarowego – pomiary przyrządami o różnej rozdzielczości, wyznaczanie i ocena zdolności systemu pomiarowego odniesionej do pola tolerancji mierzonej charakterystyki i do zmienności procesu.
  • Doskonalenie systemu pomiarowego na podstawie analizy systemu pomiarowego – ocena systemów pomiarowych po wykonaniu serii pomiarów różnymi przyrządami pomiarowymi na wyrobie, podlegającemu kontroli zgodnie z Planem Kontroli.
  • Wyznaczenie stabilności przyrządu pomiarowego na podstawie przyjętego czasookresu wzorcowanie i historii wzorcowania.
  • Ocena wpływ powtarzalności i odtwarzalności systemu. pomiarowego na zdolność procesu – wyznaczenie rzeczywistej zdolności procesu na podstawie obserwowanej zdolności procesu i zdolności systemu pomiarowego.
  • Wpływ zdolności systemu pomiarowego na interpretację karty kontrolnej X-R – pomiary detali systemami pomiarowymi o róznej zdolności, wypełnianie i analiza karty kontrolnej X-R.

Ćwiczenia dodatkowe realizowane po uzgodnieniu z uczestnikami szkolenia (alternatywa dla powyższych ćwiczeń):

  • Doskonalenie systemu pomiarowego opartego na kontroli wizualnej (analiza dyskretnego systemu pomiarowego metodą Kappa) – przeprowadzenie kontroli wizualnej i/lub za pomocą sprawdzianu GO/NOGO, przeprowadzenie analizy systemu pomiarowego, poprawa skuteczności dyskretnego systemu pomiarowego na podstawie uzyskanych danych.

Adresaci

  • osoby zajmujące się nadzorowaniem wyposażenia do monitorowania i pomiarów,
  • osoby zajmujące się doborem wyposażenia pomiarowego i doskonaleniem systemów pomiarowych,
  • pracownicy izb pomiarowych,
  • pracownicy działu jakości,
  • osoby prowadzące projekty, w tym projekty w metodologii six-sigma,
  • auditorzy wewnętrzni systemu zarządzania jakością.

Korzyści dla uczestnika

Uczestnik nauczy się:

  • Oceniać charakterystyki specjalne. Wybór ch-k na podstawie rysunku i oceny ryzyka do kontroli.
  • Dobierać przyrządy pomiarowe do zadania pomiarowego.
  • Tworzyć plany kontroli, instrukcje kontroli i zapisy.
  • Wyznaczać zdolność systemów pomiarowych dla cech mierzalnych i dyskretnych i odpowiednio interpretować uzyskane wyniki.
  • Oceniać przydatność systemu pomiarowego do kontroli, pomiarów, sterowania procesem i pod kątem nowych projektów.
  • Doskonalić procesy pomiarowe poprzez eliminację lub kompensację zakłóceń, zmianę zasady pomiaru, metody pomiaru lub procedury pomiarowej.

Uczestnik pozna dodatkowo:

  • Terminy związane z systemami pomiarowymi i ich walidacją.
  • Metody statystyczne stosowane w ocenie systemów pomiarowych i procesów produkcyjnych.
  • Techniki kart kontroli jakości.

Metodyka

Część teoretyczna poparta ćwiczeniami i warsztatami, praca w grupach, wykorzystanie przyrządów pomiarowych, sprawdzianu GO/NOGO, ćwiczenia rachunkowe na podstawie uzyskanych danych.

Zastosowanie

W dużym stopniu jakość wytwarzanych wyrobów zależy od wiarygodności stosowanych systemów pomiarowych. Tylko wiarygodne wyniki pomiarów umożliwiają podjęcie prawidłowych decyzji podczas pomiarów, analiz czy doskonalenia.
Ważnym elementem nadzoru nad wyposażeniem pomiarowym, obok wzorcowania, jest określenie przydatności procesu/procedury pomiarowej dla danego zadania pomiarowego. Wzorcowanie określa jedynie kondycję metrologiczną przyrządu pomiarowego i wykonywane jest w warunkach laboratoryjnych.
Pierwszym krokiem, poprzedzającym wzorcowanie, jest dobór odpowiedniego przyrządu pomiarowego. Kolejny etap to walidacja procesu/procedury pomiarowej, potwierdzająca jej przydatności dla danego zadania pomiarowego.
W procesie walidacji należy zidentyfikować i ocenić wielkości wpływające wynikające z zastosowanej metody pomiarowej, przyjętej procedury pomiarowej i warunków pomiaru.
W razie potrzeby, przed finalną akceptacją, poprawiamy stan wiedzy o wielkości mierzonej, zmieniamy procedurę, warunki, metodę pomiaru, zmieniamy zasadę pomiaru lub założenia dla zadania pomiarowego. Ostatnim elementem jest opracowanie i wdrożenia procedr kontroli na które mogą się składać min.: plany kontroli, instrukcje kontroli, zapisy.

Informacje dodatkowe

Cena szkolenia obejmuje:

  • udział w szkoleniu, 
  • materiały w formie papierowej, segregator, notatnik, długopis,
  • bezpłatny dostęp do elektronicznych materiałów szkoleniowych w systemie Biblioteka TQMsoft,
  • certyfikat uczestnictwa w szkoleniu,
  • możliwość bezpłatnych 3-miesięcznych konsultacji po szkoleniu, które realizowane są poprzez Panel Konsultacyjny,
  • obiady, przerwy kawowe oraz słodki poczęstunek