POM-CH

Pomiary chropowatości powierzchni z uwzględnieniem ISO 21920:2022

Metrologia i kontrola, laboratoria

· Poznanie cech charakterystycznych powierzchni oraz parametrów ich opisujących

· Poznanie norm obowiązujących w pomiarach chropowatości powierzchni, w tym zmian, które wprowadza norma ISO 21920:2022

· Poznanie metod pomiaru chropowatości powierzchni

· Nabycie umiejętności właściwego odczytu symboli chropowatości na rysunku technicznym

POM-CH

1. Przyczyny powstania chropowatości i falistości powierzchni i jej znaczenie dla kształtowania cech użytkowych wyrobu.

2. Typy nierówności powierzchni.

3. Rodzaje profili odwzorowujących.

4. Omówieniu najważniejszych norm ISO opisujących chropowatość (ISO 4287, ISO 4288, ISO 3274, ISO 1302).

5. Charakterystyka najczęściej analizowanych parametrów chropowatości (Ra, Rz, Rt itp.) w ujęciu norm ISO.

6. Falistość powierzchni.

7. Linia średnia, odcinek pomiarowy, odcinek elementarny.

8. Krzywa udziału materiałowego.

9. Analiza wykresu chropowatości.

10. Parametry metody motywów zgodnie z PN-EN ISO 12085.

11. Powierzchnie o warstwowych właściwościach funkcjonalnych PN-EN ISO 13565.

12. Filtry stosowane przy pomiarze chropowatości.

13. Analiza symboli chropowatości na rysunku technicznym.

14. Zmiany, które wprowadza norma ISO 21920:2022.

Ćwiczenia:

· Interpretacja symboli rysunkowych

· Odczytywanie zapisów na dostarczonych rysunkach

Znajomość rysunku technicznego w stopniu podstawowym

Uczestnik dowiaduje się:

O powiązaniach zapisów rysunkowych z pomiarami.
O różnicach w parametrach chropowatości powierzchni
O funkcjonalnym znaczeniu mikrogeometrii powierzchni
O właściwym doborze parametrów do pomiaru chropowatości
Wyznaczania wartości parametrów funkcjonalnych wg przebiegu krzywej udziału materiałowej.
Jak właściwie przeprowadzać pomiar mikrogeometryczny metodą profilometryczną