STATYSTYCZNE STEROWANIE PROCESEM (SPC) ANALIZA SYSTEMÓW POMIAROWYCH (MSA) WEDŁUG WYMAGAŃ BRANŻY LOTNICZEJ - Szkolenia - TQMsoft
Ustawienia dostępności
Zwiększ wysokość linii
Zwiększ odległość między literami
Wyłącz animacje
Przewodnik czytania
Czytnik
Większy kursor
{[tilte]}
AS-SPC_MSA

STATYSTYCZNE STEROWANIE PROCESEM (SPC) ANALIZA SYSTEMÓW POMIAROWYCH (MSA) WEDŁUG WYMAGAŃ BRANŻY LOTNICZEJ

Metody statystyczne

Cele szkolenia

Cele szkolenia:

  • Przedstawienie, szczegółowe omówienie, praktyczne wykorzystanie i interpretacja wyników w zakresie stosowania narzędzi statystycznego sterowania procesem (SPC) i kwalifikacji systemów pomiarowych (MSA) zgodnie
    z aktualnymi wymaganiami branży lotniczej - SAE RM 13006:2021 „Process Control Methods”, SAE RM 13003:2021 „Measurement Systems Analysis”

Przedmiot szkolenia:

  • Podstawę formalną stanowią normy: SAE RM 13006:2021 „Process Control Methods”, SAE RM 13003:2021 „Measurement Systems Analysis” wraz z wszystkimi dokumentami powiązanymi, m.in. AS13003:2015, AS13006:2018, ASTM E2782:2014, ISO 22514-7:2021, AIAG Reference Manual MSA 4-th ed.2010, Detroid MI, AIAG Reference Manual SPC 2-nd ed.2005, Detroid MI, Breyfogle 2003 (ISBN 0-471-26572-1), Minitab suport documentation (www.minitab.com).

 

Symbol szkolenia

AS-SPC_MSA

Terminy i miejsce

04 - 06 listopada 2024
do rozpoczęcia pozostało 19 dni 2 godziny
Lokalizacja: Kraków, ul. Bociana 22a

Dokumenty do pobrania

Szacunkowy udział części praktycznej: 65%

Czas trwania: 3 dni po 7 godz.

Program i ćwiczenia

Program szkolenia:

Część 1 - Statystyczne sterowanie procesem (SPC).

  • Ocena zdolności procesu (współczynniki Pp, Ppk, Cp, Cpk): dwustronna granica specyfikacji/jednostronna granica specyfikacji, rozkład normalny/rozkład inny od rozkładu normalnego (transformacje Box-Cox/Johnson, procedura dopasowanie rozkładu). Zdolność Between/Within. Funkcja straty.
  • Zdolność procesu w przypadku oceny atrybutowej.
  • Karty kontrolne Shewharta w przypadku parametrów mierzalnych (xbar-R,I-MR, karta I-MR-R/S – dobór, konstrukcja, interpretacja). Karty kontrolne w przypadku oceny alternatywnej (p, np., c, u – dobór, konstrukcja, interpretacja). Inne karty kontrolne (w przypadku rozkładów innych od normalnego, w przypadku tzw. zdarzeń rzadkich).
  • Równoczesne monitorowanie procesu ze względu na wiele parametrów. Krótkie serie (karta prekontroli Green-Yellow-Red, karta DNOM odchyleń od wartości nominalnej). Organizacja SPC (korzyści, pokonywanie przeciwności, zalecenia odnośnie treningu).
  • Relacje SPC/PFMEA.

Część 2 - Analiza systemów pomiarowych (MSA).

  • Pojęcia podstawowe (proces/system pomiarowy, poprawność – błąd systematyczny, stabilność, liniowość; precyzja - powtarzalność, odtwarzalność, interakcja ).
  • Podział charakterystyk Critical/Major/Minor.
  • Ocena procesu pomiarowego (EMP – Evaluating the Measurement Process): jeden operator/urządzenie pomiarowe/jedna część, jeden operator/urządzenie pomiarowe/kilka części, kilku operatorów/urządzenia pomiarowe/kilka części.
  • Metody i kryteria kwalifikacji (Short/Basic EMP Study)–analiza wariancji (ANOVA) (preferowana !!!), metoda średniej
    i rozstępu, ocena spójności (Consistency Study), zasady wyznaczanie i interpretacja pasm ochronnych (Guard Bands), współczynnik korelacji wewnątrzklasowej (Interclass Correlation Coefficient ICC).
  • Współczynniki: precyzja/do tolerancji P/T, liczba rozróżnialnych kategorii ndc – wyznaczanie, interpretacja.
  • Analiza graficzna – karta kontrolna wartości średniej i rozstępu, wykres interakcji, wykorzystanie karty ANOM, karty przebiegu procesu pomiarowego, wykresy typu Multi-Vari Charts. Ocena błędu systematycznego (bias) oraz liniowości.
  • Wyznaczanie i interpretacja współczynników zdolności urządzenia pomiarowego Cg, Cgk (Cg, Cgk Study).
  • Kwalifikacja w przypadku jednostronnej granicy specyfikacji. Ocena wpływu temperatury.
  • MSA w przypadku oceny atrybutowej – metoda długa (R&R dla atrybutów), współczynnik kappa Cohena – technika, interpretacja.
  • Dane porządkowe (np. skale wzorców – wielkość ziarna, wtrącenia niemetaliczne) – wyznaczanie i interpretacja współczynnika ICC (Interclass Correlation Coefficient).
  • Wykorzystanie metod planowania eksperymentu (DOE) w MSA. Powiązania MSA/FMEA.

 

Korzyści dla uczestnika

Korzyści dla Uczestnika

 

Uczestnik nauczy się:

·         Identyfikować zapotrzebowanie na stosowanie narzędzi SPC i MSA w branży lotniczej .

·         Dokonywać statystycznej analizy danych pochodzących z procesu.

·         Określać warunki jakie muszą być spełnione żeby w sposób właściwy stosować i wykorzystać metody SPC i MSA.

·         Posługiwać się narzędziami SPC i MSA  w sposób praktyczny – dobierając narzędzia, zasady rachunkowe i interpretacyjne.

 

Uczestnik dowie się:

·         Jakie korzyści dostarcza stosowanie SPC i MSA – odniesienie do właściciela procesu, odniesienie do klienta.

·         Jakie są wymagania odnośnie stosowania metod SPC i MSA w kontekście współcześnie stosowanych formalnych oczekiwań – SAE RM 13006:2021 „Process Control Methods”, SAE RM 13003:2021 „Measurement Systems Analysis”

·         Kiedy, gdzie, przy spełnieniu jakich warunków, wykorzystywać określone narzędzia SPC i MSA.

·         Na co zwracać szczególną uwagę w analizie danych procesowych i kwalifikacji systemów pomiarowych. 

Metodyka

Szkolenie ma charakter warsztatowy. Wszystkie podejmowane zagadnienia ilustrowane są wieloma przykładami, w których uwaga skierowana jest zarówno na stronę rachunkową (Minitab), jak i na stronę znaczeniową (interpretacja otrzymanych wyników w aspekcie oceny jakości procesów produkcyjnego/ pomiarowego oraz możliwości ich doskonalenia.

Adresaci

·         specjaliści ds. jakości, inżynierowie jakości, technolodzy,

·         osoby odpowiedzialne za jakość, pracownicy działów zapewnienia jakości, inżynierowie jakości, analitycy,

·         osoby odpowiedzialne za wdrożenie, utrzymanie i doskonalenie procedur SPC i MSA w przedsiębiorstwie,

·         osoby odpowiedzialne za jakość dostawców, pracownicy działów współpracujących z klientem,

·         osoby odpowiedzialne za nadzorowanie systemów / procesów pomiarowych,

·         pracownicy izb pomiarów, szefowie kontroli jakości.

Dodatkowe informacje

Cena szkolenia obejmuje:

  • udział w szkoleniu, 
  • materiały w formie papierowej, segregator, notatnik, długopis,
  • bezpłatny dostęp do elektronicznych materiałów szkoleniowych,
  • certyfikat uczestnictwa w szkoleniu,
  • możliwość bezpłatnych 3-miesięcznych konsultacji po szkoleniu,
  • obiady, przerwy kawowe oraz słodki poczęstunek

Powiązane artykuły

ANALIZA SYSTEMÓW POMIAROWYCH (MSA)

ANALIZA SYSTEMÓW POMIAROWYCH (MSA)

Andrzej Czarski
Andrzej Czarski
Trener TQMsoft
W roku 2021 ukazały się Podręczniki Referencyjne RM 13006 „Process Control Methods” oraz RM 13003 „Measurement Systems Analysis” stanowiące uzupełnienie, rozwinięcie, szeroką wykładnię i interpretację wymagań odnośnie SPC i MSA zawartych w wydanej w tym samym roku normie AS 13100 „AESQ Quality Management System Requirements for Aero Engine Design and Production Organisations”.
27.01.2023
Czytaj artykuł

Najbliższe szkolenie otwarte:

2950.00 zł netto
3628.50 zł brutto

Jak się zgłosić na szkolenie?

  1. Pobierz kartę zgłoszenia
  2. Wypełnij i opieczętuj
  3. Wyślij na szkolenia.otwarte@tqmsoft.eu

Gotowe!


Szukasz

innego terminu, miasta
a masz do przeszkolenia minimum 4 pracowników?

Zapytaj nas o możliwości

Powiązane szkolenia

Potrzebujesz pomocy?

Szkolenia otwarte

Monika Kozdrój

Specjalista ds. Realizacji Szkoleń

Anna Wnęk

Młodszy Specjalista ds. Realizacji Szkoleń

Szkolenia zamknięte

Sylwia Smuga

Sylwia Smuga

Kierownik Działu Szkoleń

Karolina Paluch

Karolina Paluch

Starszy Specjalista ds. Realizacji Szkoleń

Dokumenty do pobrania