Analiza systemów pomiarowych - metoda R&R dla pomiarów niepowtarzalnych
Cele szkolenia
Dla kogo?
Osoby odpowiedzialne za nadzór nad wyposażeniem kontrolno – pomiarowym.
Pracownicy izb pomiarów i laboratoriów pomiarowych / badawczych.
Osoby odpowiedzialne za planowanie, skuteczność, organizację kontroli jakości lub SPC.
Osoby odpowiedzialne za dobór przyrządów / metod kontroli wyrobu / nadzorowania procesu.
Auditorzy wewnętrzni, auditorzy II strony (dostawców), auditorzy III strony (certyfikujący) – szczególnie wg wymagań IATF 16949.
Osoby uczestniczące lub prowadzące projekty Six-Sigma (Green Belt, Black Belt).
Osoby odpowiedzialne za planowanie, skuteczność, organizację kontroli jakości, w tym dobór i nadzór kontrolerów.
Osoby odpowiedzialne za jakość dostaw / dostawców.
Szefowie jakości, pracownicy działów jakości, inżynierowie jakości.
Inżynierowie procesu.
Osoby odpowiedzialne za nowe projekty / wdrożenia nowych wyrobów.
Osoby odpowiedzialne za PPAP w przedsiębiorstwie, szczególnie za raporty MSA.
Program szkolenia
- Analiza R&R metodą średnich i rozstępów (ARM) – analiza przypadku (powtórka).
- Projektowanie i wykorzystanie kart kontrolnych X-mR, z-R, Xśr-R do monitorowania długoterminowej stabilności systemu pomiarowego (procedury S1, S3, S4, S5a) – rozwiązywanie przypadków indywidualne lub zespołowe (Excel) w celu zrozumienia sposobu i zakresu stosowania kart stabilności.
- Ocena zdolności przyrządu dla zadania pomiarowego typu „orzekanie zgodności ze specyfikacją” oraz do zastosowań w SPC w celu nabycia umiejętności doboru metody i wykonania badania.
- Procedura V3 oraz V3a (test-retest study) – rozwiązanie przypadku, ćwiczenie obliczeniowe (Excel).
- Analiza R&R metodą „Anova Nested” (procedura V4) – przygotowanie próbki homogenicznej, własnoręczne pomiary i analiza wyników (oprogramowanie MSA).
Zastosowanie szkolenia
Analiza zdolności systemów pomiarowych (MSA – Measurement System Analysis) stanowi istotne uzupełnienie okresowego sprawdzania / wzorcowania przyrządów. Pozwala ona na ocenę zdatności danego systemu pomiarowego do wykonywania zadania pomiarowego określonego przez: mierzoną właściwość (jej wartość, tolerancję i zmienność w procesie produkcji), umiejętności operatorów, warunki (zakłócenia) zewnętrzne oraz procedurę pomiarową.
Wyniki analizy mogą przyczynić się do istotnej redukcji ryzyka reklamacji i kosztów braków dzięki identyfikacji systemów pomiarowych będących źródłem błędnych decyzji o zwolnieniu wyrobu (lub akceptacji procesu).
Najczęściej stosowaną i najbardziej uniwersalną metodą oceny zdolności systemów pomiarowych jest analiza „R&R”, która w sytuacji pomiarów „niepowtarzalnych” (np. pomiary twardości, chropowatości, wytrzymałości, momentów dokręceń czy badania niszczące) wymaga modyfikacji polegającej m.in. na odpowiednim przygotowaniu próbek.
W zakresie MSA mieści się też monitorowanie długoterminowej stabilności systemów pomiarowych (adoptowanymi z SPC metodami), które w porównaniu z okresowym sprawdzaniem/wzorcowaniem lub okresowo wykonywaną analizą „R&R” zapewniają nieporównanie większą skuteczność wykrywania problemów związanych z systemami pomiarowymi w czasie procesu produkcyjnego lub kontrolnego
Korzyści dla firmy
Możliwość identyfikacji słabych punktów kontrolnych w kontroli dostaw, w toku procesu produkcyjnego oraz w kontroli końcowej, szczególnie dla właściwości (charakterystyk) specjalnych.
Uzyskanie danych do określenia przyczyn nieskutecznej kontroli i ich redukcji, a przez to poprawa jakości dostaw do klienta.
Ocena trafności doboru metod pomiarowych dla sterowania procesem, a przez to redukcja kosztów błędnych interwencji w procesie produkcyjnym.?
Informacje dodatkowe
Szkolenie prowadzone zdalnie poprzez sesję wideokonferencji on-line z wykorzystaniem dedykowanych narzędzi.
Uczestnicy dostają link do otwarcia sesji.
Materiały dostępne w wersji elektronicznej.
Rozszerzony opis szkolenia
Szkolenie poświęcone analizie systemów pomiarowych dla pomiarów niepowtarzalnych pozwala uczestnikom swobodnie pracować z metodami MSA wymaganymi w branży motoryzacyjnej i szeroko stosowanymi w kontroli jakości. W trakcie zajęć omawiane są metody ARM, RM oraz ANOVA (zarówno „crossed”, jak i „nested”), a także procedury S1–S5 wykorzystywane do monitorowania stabilności systemu pomiarowego w przypadku pomiarów powtarzalnych i niepowtarzalnych. Duży nacisk kładziemy na praktykę – uczestnicy wykonują ćwiczenia z użyciem prostych przyrządów pomiarowych, arkuszy obliczeniowych oraz oprogramowania MSA, co pozwala utrwalić sposób prowadzenia analizy R&R w różnych scenariuszach.
Szkolenie prowadzone jest online, a sposób pracy odzwierciedla realne sytuacje pojawiające się w laboratoriach i działach jakości: problemy z doborem próbek do badań R&R, ograniczenia wynikające z pomiarów niszczących, trudności w odróżnieniu źródeł zmienności oraz identyfikowaniu błędów systematycznych i przypadkowych. Uczestnicy uczą się analizować wpływ EV, AV, TV i PV na podejmowane decyzje oraz oceniać, kiedy dany system pomiarowy może być wykorzystywany do sterowania procesem, a kiedy generuje ryzyko błędnej oceny zgodności.
Ważnym elementem szkolenia jest praca z kartami kontrolnymi w kontekście stabilności systemu pomiarowego – uczestnicy projektują i interpretują karty X-mR, z-R oraz Xśr-R. To pozwala lepiej ocenić zachowanie systemów w dłuższym okresie i wykrywać odchylenia, których nie sposób zauważyć przy standardowym wzorcowaniu lub jednorazowej analizie R&R.
Program kierowany jest do osób odpowiadających za nadzór nad przyrządami pomiarowymi, planowanie kontroli, prowadzenie badań stabilności oraz przygotowywanie raportów MSA w projektach opartych o IATF 16949, PPAP czy Six Sigma. Uczestnicy poznają różnice między podejściem do pomiarów powtarzalnych i niepowtarzalnych, uczą się przygotowywać próbki „homogeniczne” i dobierać odpowiednią procedurę badawczą zależnie od typu zadania pomiarowego i wymagań specyfikacji.
Najczęściej zadawane pytaniaCzym różni się analiza R&R dla pomiarów niepowtarzalnych od analizy standardowej?
W przypadku pomiarów niepowtarzalnych każda próbka ulega zmianie lub zniszczeniu, dlatego nie można wykonać kilku pomiarów tej samej sztuki. W analizie stosuje się odpowiednio dobrane procedury (np. V3, V3a, V4) oraz techniki ANOVA „nested”, a próbki muszą być przygotowane tak, aby możliwe było określenie źródeł zmienności bez powtarzania pomiarów na tej samej powierzchni.
Czy szkolenie obejmuje praktyczne ćwiczenia z arkuszami obliczeniowymi?
Tak. Uczestnicy wykonują obliczenia w Excelu, analizują przypadki ARM, projektują karty kontrolne i przeprowadzają procedury V3 i V3a. Celem zajęć jest swobodne posługiwanie się narzędziami stosowanymi w codziennej pracy metrologów i laboratoriów.
Czy podczas szkolenia omawiane są także pomiary powtarzalne?
Tak. W programie znajduje się powtórka metod MSA dla pomiarów powtarzalnych, dzięki czemu uczestnicy widzą różnice między obiema kategoriami pomiarów i potrafią dobrać właściwą procedurę badania do cechy wyrobu oraz celu oceny systemu.
Dla kogo przeznaczone jest to szkolenie?
Szkolenie jest odpowiednie dla pracowników laboratoriów pomiarowych, inżynierów jakości, osób analizujących raporty MSA, auditorów IATF 16949, osób odpowiedzialnych za nadzór nad przyrządami oraz uczestników projektów Six Sigma. Sprawdza się również w zespołach odpowiedzialnych za wdrożenia nowych wyrobów i przygotowanie PPAP.
Trenerzy
Cele szkolenia
Dla kogo?
- Osoby odpowiedzialne za nadzór nad wyposażeniem kontrolno – pomiarowym.
- Pracownicy izb pomiarów i laboratoriów pomiarowych / badawczych.
- Osoby odpowiedzialne za planowanie, skuteczność, organizację kontroli jakości lub SPC.
- Osoby odpowiedzialne za dobór przyrządów / metod kontroli wyrobu / nadzorowania procesu.
- Auditorzy wewnętrzni, auditorzy II strony (dostawców), auditorzy III strony (certyfikujący) – szczególnie wg wymagań IATF 16949.
- Osoby uczestniczące lub prowadzące projekty Six-Sigma (Green Belt, Black Belt).
- Osoby odpowiedzialne za planowanie, skuteczność, organizację kontroli jakości, w tym dobór i nadzór kontrolerów.
- Osoby odpowiedzialne za jakość dostaw / dostawców.
- Szefowie jakości, pracownicy działów jakości, inżynierowie jakości.
- Inżynierowie procesu.
- Osoby odpowiedzialne za nowe projekty / wdrożenia nowych wyrobów.
- Osoby odpowiedzialne za PPAP w przedsiębiorstwie, szczególnie za raporty MSA.
Program szkolenia
1. Zdolność systemu pomiarowego. 2. Przyczyny zmienności wyników pomiarów, pojęcie błędu i niepewności pomiaru. 3. Niepewność pomiaru a podejmowanie decyzji w procesie produkcji – skutki błędów pomiaru dla kontroli jakości i dla sterowania procesem. 4. Składniki zmienności, wskaźniki i wymagania – powtórka. 5. Niepoprawność wskazań (błąd systematyczny). 6. Błędy przypadkowe: powtarzalność (EV), odtwarzalność (AV), niepewność standardowa (powtarzalność i odtwarzalność R&R). 7. Zmienność całkowita (TV) a zmienność własna procesu (PV). 8. Rozdzielczość i rozróżnialność (ndc). 9. Wskaźniki zdolności i wymagania dla zadań pomiarowych związanych z kontrolą jakości lub sterowaniem procesem. 10. Krótkoterminowa i długoterminowa stabilność systemu pomiarowego: karty kontrolne SPC w zastosowaniu do monitorowania systemu pomiarowego. 11. Metodyka badań zdolności systemów pomiarowych. 12. Analiza „R&R” metodą średnich i rozstępów (ARM) dla pomiarów „powtarzalnych” – powtórka (wg MSA-4). 13. Przypadek pomiaru „niepowtarzalnego” – problemy z określeniem źródeł zmienności. 14. Metody monitorowania stabilności systemów pomiarowych dla pomiarów powtarzalnych (procedury S1, S2) oraz niepowtarzalnych (procedury S3, S4, S5a, S5b). 15. Pojęcie próbki „homogenicznej”, metody pozyskiwania / przygotowywania. 16. Metody badania zdolności systemu pomiarowego w przypadku pomiarów niepowtarzalnych: procedury V3, V3a, V4 – analiza „R&R” z użyciem metody ARM (średnich i rozstępów) „ANOVA Crossed” (krzyżowa) i „ANOVA Nested” (zagnieżdżona). 17. Problemy i ograniczenia w interpretacji negatywnych wyników analiz. Ćwiczenia:
- Analiza R&R metodą średnich i rozstępów (ARM) – analiza przypadku (powtórka).
- Projektowanie i wykorzystanie kart kontrolnych X-mR, z-R, Xśr-R do monitorowania długoterminowej stabilności systemu pomiarowego (procedury S1, S3, S4, S5a) – rozwiązywanie przypadków indywidualne lub zespołowe (Excel) w celu zrozumienia sposobu i zakresu stosowania kart stabilności.
- Ocena zdolności przyrządu dla zadania pomiarowego typu „orzekanie zgodności ze specyfikacją” oraz do zastosowań w SPC w celu nabycia umiejętności doboru metody i wykonania badania.
- Procedura V3 oraz V3a (test-retest study) – rozwiązanie przypadku, ćwiczenie obliczeniowe (Excel).
- Analiza R&R metodą „Anova Nested” (procedura V4) – przygotowanie próbki homogenicznej, własnoręczne pomiary i analiza wyników (oprogramowanie MSA).
W przypadku szkoleń zamkniętych: ćwiczenia wykonywane mogą być na bazie próbki wyrobów Klienta; wymaga to wcześniejszego przygotowania próbki przez Klienta w uzgodnieniu z trenerem.
Zastosowanie szkolenia
Analiza zdolności systemów pomiarowych (MSA – Measurement System Analysis) stanowi istotne uzupełnienie okresowego sprawdzania / wzorcowania przyrządów. Pozwala ona na ocenę zdatności danego systemu pomiarowego do wykonywania zadania pomiarowego określonego przez: mierzoną właściwość (jej wartość, tolerancję i zmienność w procesie produkcji), umiejętności operatorów, warunki (zakłócenia) zewnętrzne oraz procedurę pomiarową. Wyniki analizy mogą przyczynić się do istotnej redukcji ryzyka reklamacji i kosztów braków dzięki identyfikacji systemów pomiarowych będących źródłem błędnych decyzji o zwolnieniu wyrobu (lub akceptacji procesu). Najczęściej stosowaną i najbardziej uniwersalną metodą oceny zdolności systemów pomiarowych jest analiza „R&R”, która w sytuacji pomiarów „niepowtarzalnych” (np. pomiary twardości, chropowatości, wytrzymałości, momentów dokręceń czy badania niszczące) wymaga modyfikacji polegającej m.in. na odpowiednim przygotowaniu próbek. W zakresie MSA mieści się też monitorowanie długoterminowej stabilności systemów pomiarowych (adoptowanymi z SPC metodami), które w porównaniu z okresowym sprawdzaniem/wzorcowaniem lub okresowo wykonywaną analizą „R&R” zapewniają nieporównanie większą skuteczność wykrywania problemów związanych z systemami pomiarowymi w czasie procesu produkcyjnego lub kontrolnego.
Korzyści dla firmy
Możliwość identyfikacji słabych punktów kontrolnych w kontroli dostaw, w toku procesu produkcyjnego oraz w kontroli końcowej, szczególnie dla właściwości (charakterystyk) specjalnych. Uzyskanie danych do określenia przyczyn nieskutecznej kontroli i ich redukcji, a przez to poprawa jakości dostaw do klienta. Ocena trafności doboru metod pomiarowych dla sterowania procesem, a przez to redukcja kosztów błędnych interwencji w procesie produkcyjnym.?
Informacje dodatkowe
Cena szkolenia obejmuje:
- udział w szkoleniu,
- materiały w formie papierowej, segregator, notatnik, długopis,
- bezpłatny dostęp do elektronicznych materiałów szkoleniowych,
- certyfikat uczestnictwa w szkoleniu,
- możliwość bezpłatnych 3-miesięcznych konsultacji po szkoleniu,
- obiady, przerwy kawowe oraz słodki poczęstunek.
Opis szkolenia – rozszerzenieSzkolenie z analizy systemów pomiarowych metodą R&R dla pomiarów niepowtarzalnych to zaawansowane podejście do oceny wiarygodności pomiarów w sytuacjach, w których nie można wykonać wielokrotnych pomiarów tej samej próbki. Dotyczy to m.in. badań niszczących, pomiarów wpływających na badaną cechę czy charakterystyk zmiennych w czasie. W takich przypadkach klasyczne podejście MSA wymaga dostosowania – i właśnie na tym koncentruje się program.
Podczas szkolenia uczestnicy pracują na rzeczywistych przykładach z obszaru produkcji, laboratoriów oraz kontroli jakości, ucząc się jak prawidłowo dobierać metody badania zdolności systemu pomiarowego zgodnie z wytycznymi MSA (AIAG, 4th Edition). Szczególny nacisk położony jest na analizę zmienności, identyfikację błędów systematycznych i losowych oraz właściwą interpretację wyników analiz R&R w sytuacjach, gdzie klasyczne podejście nie daje jednoznacznych odpowiedzi.
Dzięki dużemu udziałowi ćwiczeń (ok. 80%) uczestnicy zdobywają praktyczne umiejętności wykorzystania metod takich jak ANOVA (Nested i Crossed), procedury V3, V4 czy test-retest study. Pracują również na kartach kontrolnych stosowanych do monitorowania stabilności systemów pomiarowych w czasie, co ma bezpośrednie przełożenie na skuteczność nadzorowania procesów produkcyjnych i kontrolnych.
Szkolenie szczególnie dobrze odpowiada na potrzeby organizacji pracujących zgodnie z wymaganiami IATF 16949, SPC, Six Sigma oraz PPAP, gdzie analiza MSA stanowi jeden z fundamentów podejmowania decyzji jakościowych. Uczestnicy uczą się, jak oceniać przydatność systemu pomiarowego do konkretnego zastosowania – zarówno w kontekście kontroli wyrobu, jak i sterowania procesem – oraz jak unikać błędnych decyzji wynikających z niewłaściwych danych pomiarowych.
Efektem udziału w szkoleniu jest zdolność do samodzielnego planowania i przeprowadzania analiz R&R dla pomiarów niepowtarzalnych, właściwego interpretowania wyników oraz wskazywania działań doskonalących. Przekłada się to bezpośrednio na ograniczenie ryzyka reklamacji, poprawę jakości decyzji oraz redukcję kosztów związanych z błędną oceną zgodności wyrobów i procesów.
Najczęściej zadawane pytaniaCzym różni się analiza R&R dla pomiarów niepowtarzalnych od standardowej analizy?W przypadku pomiarów niepowtarzalnych nie można wielokrotnie zmierzyć tej samej próbki w identycznych warunkach. Wymaga to zastosowania zmodyfikowanych metod (np. test-retest, ANOVA Nested) oraz odpowiedniego przygotowania próbek, aby możliwe było rozdzielenie źródeł zmienności.
Czy szkolenie obejmuje praktyczne wykorzystanie metod MSA?
Tak. Uczestnicy wykonują analizy w oparciu o rzeczywiste przypadki, korzystając m.in. z arkuszy Excel oraz specjalistycznego oprogramowania MSA. Ćwiczenia obejmują zarówno interpretację wyników, jak i dobór właściwej metody do konkretnego zadania pomiarowego.Dla jakich branż i zastosowań szkolenie jest najbardziej przydatne?
Szkolenie jest szczególnie wartościowe w branżach produkcyjnych, w których stosuje się pomiary niszczące lub trudne do powtórzenia – np. automotive, lotnictwo, przemysł metalowy. Ma także duże znaczenie tam, gdzie obowiązują wymagania IATF 16949, PPAP czy Six Sigma.Jakie problemy można rozwiązać dzięki analizie systemów pomiarowych?
Analiza MSA pozwala wykryć systemy pomiarowe, które generują niewiarygodne wyniki, co prowadzi do niewłaściwych decyzji jakościowych. Dzięki temu możliwe jest ograniczenie liczby reklamacji, poprawa skuteczności kontroli oraz lepsze sterowanie procesem produkcyjnym.
Trenerzy
Wybierz rodzaj szkolenia
Wybierz termin szkolenia
Brak dostępnych terminów
Oferta indywidualna
Pomyślnie dodano do koszyka
Analiza systemów pomiarowych - metoda R&R dla pomiarów niepowtarzalnych
Wybierz pokrewne
Analiza systemów pomiarowych dla oceny alternatywnej (OK/NOK)
Symbol: MSAKAP
Zobacz szkolenie
Analiza systemów pomiarowych dla właściwości mierzalnych
Symbol: MSARR
Zobacz szkolenie
Metody analizy danych procesów produkcyjnych
Symbol: MTB-STAT
Zobacz szkolenieWprowadzenie do wdrożenia pomiarów 3D na hali produkcyjnej
Symbol: POM-3D
Zobacz szkolenie
Pomiary na maszynach współrzędnościowych
Symbol: POM-CMM
Zobacz szkolenie
Metody statystyczne w analizie sensorycznej - badania konsumenckie
Symbol: SNS-STAT-K
Zobacz szkolenie
Niepewność pomiaru - metodyka szacowania wg ISO i VDA5
Symbol: UG-P
Zobacz szkolenieOpinie
Opinie
Masz pytania do tego szkolenia?
Skonsultuj się z naszym doradcą.