Ustawienia dostępności
Zwiększ wysokość linii
Zwiększ odległość między literami
Wyłącz animacje
Przewodnik czytania
Czytnik
Większy kursor
MSARR-N-ONL
Online

Analiza systemów pomiarowych - metoda R&R dla pomiarów niepowtarzalnych- szkolenie online

Uniwersalne narzędzia jakości

Cele szkolenia

Metody oceny zdolności systemów pomiarowych (MSA) w przypadku pomiarów niepowtarzalnych (np. niszczących lub zmieniających wielkość mierzoną) wg wytycznych branży motoryzacyjnej (MSA-4). Przegląd i powtórka metod MSA dla pomiarów powtarzalnych. Monitorowanie stabilności systemów pomiarowych w przypadku pomiarów niepowtarzalnych, analiza „R&R” dla pomiarów niepowtarzalnych – ARM, RM, ANOVA. Przykłady, ćwiczenia z wykorzystaniem prostego sprzętu pomiarowego i arkuszy obliczeniowych.

Symbol szkolenia

MSARR-N-ONL

Terminy i miejsce

12 - 14 października 2022
do rozpoczęcia pozostało 3 miesiące 8 dni
Lokalizacja: Online

Czas trwania: 3 dni po 8 godz.

Program i ćwiczenia

 

1.  Zdolność systemu pomiarowego. 
2.  Przyczyny zmienności wyników pomiarów, pojęcie błędu i niepewności pomiaru. 
3.  Niepewność pomiaru a podejmowanie decyzji w procesie produkcji - skutki błędów pomiaru dla kontroli jakości i dla sterowania procesem. 
4.  Składniki zmienności, wskaźniki i wymagania – powtórka. 
5.  Niepoprawność wskazań (błąd systematyczny). 
6.  Błędy przypadkowe: powtarzalność (EV), odtwarzalność (AV), niepewność standardowa (powtarzalność i odtwarzalność R&R). 
7.  Zmienność całkowita (TV) a zmienność własna procesu (PV). 
8.  Rozdzielczość i rozróżnialność (ndc). 
9.  Wskaźniki zdolności i wymagania dla zadań pomiarowych związanych z kontrolą jakości lub sterowaniem procesem. 
10.  Krótkoterminowa i długoterminowa stabilność systemu pomiarowego: karty kontrolne SPC w zastosowaniu do monitorowania systemu pomiarowego. 
11.  Metodyka badań zdolności systemów pomiarowych. 
12.  Analiza „R&R” metodą średnich i rozstępów (ARM) dla pomiarów „powtarzalnych” – powtórka (wg MSA-4). 
13.  Przypadek pomiaru „niepowtarzalnego” – problemy z określeniem źródeł zmienności. 
14.  Metody monitorowania stabilności systemów pomiarowych dla pomiarów powtarzalnych (procedury S1, S2) oraz niepowtarzalnych (procedury S3, S4, S5a, S5b). 
15.  Pojęcie próbki „homogenicznej”, metody pozyskiwania / przygotowywania. 
16.  Metody badania zdolności systemu pomiarowego w przypadku pomiarów niepowtarzalnych: procedury V3, V3a, V4 – analiza „R&R” z użyciem metody ARM (średnich i rozstępów) „ANOVA Crossed” (krzyżowa) i „ANOVA Nested” (zagnieżdżona). 
17.  Problemy i ograniczenia w interpretacji negatywnych wyników analiz. 
 
Ćwiczenia: 
  • Analiza R&R metodą średnich i rozstępów (ARM) – analiza przypadku (powtórka). 
  • Projektowanie i wykorzystanie kart kontrolnych X-mR, z-R, Xśr-R do monitorowania długoterminowej stabilności systemu pomiarowego (procedury S1, S3, S4, S5a) – rozwiązywanie przypadków indywidualne lub zespołowe (Excel) w celu zrozumienia sposobu i zakresu stosowania kart stabilności. 
  • Ocena zdolności przyrządu dla zadania pomiarowego typu „orzekanie zgodności ze specyfikacją” oraz do zastosowań w SPC w celu nabycia umiejętności doboru metody i wykonania badania. 
  • Procedura V3 oraz V3a (test-retest study) – rozwiązanie przypadku, ćwiczenie obliczeniowe (Excel). 
  • Analiza R&R metodą „Anova Nested” (procedura V4) – przygotowanie próbki homogenicznej, własnoręczne pomiary i analiza wyników (oprogramowanie MSA). 
 
W przypadku szkoleń zamkniętych: ćwiczenia wykonywane mogą być na bazie próbki wyrobów Klienta; wymaga to wcześniejszego przygotowania próbki przez Klienta w uzgodnieniu z trenerem. 

Korzyści dla przedsiębiorstwa

  • Możliwość identyfikacji słabych punktów kontrolnych w kontroli dostaw, w toku procesu produkcyjnego oraz w kontroli końcowej, szczególnie dla właściwości (charakterystyk) specjalnych.
  • Uzyskanie danych do określenia przyczyn nieskutecznej kontroli i ich redukcji, a przez to poprawa jakości dostaw do klienta.
  • Ocena trafności doboru metod pomiarowych dla sterowania procesem, a przez to redukcja kosztów błędnych interwencji w procesie produkcyjnym.?

Adresaci

  • Osoby odpowiedzialne za nadzór nad wyposażeniem kontrolno – pomiarowym.
  • Pracownicy izb pomiarów i laboratoriów pomiarowych / badawczych.
  • Osoby odpowiedzialne za planowanie, skuteczność, organizację kontroli jakości lub SPC.
  • Osoby odpowiedzialne za dobór przyrządów / metod kontroli wyrobu / nadzorowania procesu.
  • Auditorzy wewnętrzni, auditorzy II strony (dostawców), auditorzy III strony (certyfikujący) – szczególnie wg wymagań ISO/TS 16949.
  • Osoby uczestniczące lub prowadzące projekty Six-Sigma (Green Belt, Black Belt).
  • Osoby odpowiedzialne za planowanie, skuteczność, organizację kontroli jakości, w tym dobór i nadzór kontrolerów.
  • Osoby odpowiedzialne za jakość dostaw / dostawców.
  • Szefowie jakości, pracownicy działów jakości, inżynierowie jakości.
  • Inżynierowie procesu.
  • Osoby odpowiedzialne za nowe projekty / wdrożenia nowych wyrobów.
  • Osoby odpowiedzialne za PPAP w przedsiębiorstwie, szczególnie za raporty MSA.

Zastosowanie

Analiza zdolności systemów pomiarowych (MSA – Measurement System Analysis) stanowi istotne uzupełnienie okresowego sprawdzania / wzorcowania przyrządów. Pozwala ona na ocenę zdatności danego systemu pomiarowego do wykonywania zadania pomiarowego określonego przez: mierzoną właściwość (jej wartość, tolerancję i zmienność w procesie produkcji), umiejętności operatorów, warunki (zakłócenia) zewnętrzne oraz procedurę pomiarową.
Wyniki analizy mogą przyczynić się do istotnej redukcji ryzyka reklamacji i kosztów braków dzięki identyfikacji systemów pomiarowych będących źródłem błędnych decyzji o zwolnieniu wyrobu (lub akceptacji procesu).
Najczęściej stosowaną i najbardziej uniwersalną metodą oceny zdolności systemów pomiarowych jest analiza „R&R”, która w sytuacji pomiarów „niepowtarzalnych” (np. pomiary twardości, chropowatości, wytrzymałości, momentów dokręceń czy badania niszczące) wymaga modyfikacji polegającej m.in. na odpowiednim przygotowaniu próbek.
W zakresie MSA mieści się też monitorowanie długoterminowej stabilności systemów pomiarowych (adoptowanymi z SPC metodami), które w porównaniu z okresowym sprawdzaniem/wzorcowaniem lub okresowo wykonywaną analizą „R&R” zapewniają nieporównanie większą skuteczność wykrywania problemów związanych z systemami pomiarowymi w czasie procesu produkcyjnego lub kontrolnego

Opinie użytkowników

"Duża fachowość prowadzącego"
"Gorąco polecam! Szkolenie w pełni wyczerpało moje oczekiwania i pozwoliło lepiej zrozumieć niełatwe niuanse związane ze statystyką. Prowadzący po prostu super gość!"
"Temat przedstawiony w zrozumiały sposób, przykłady i odniesienia do zagadnień praktycznych. Profesjonalizm prowadzącego."

Dodatkowe informacje

Szkolenie prowadzone zdalnie poprzez sesję wideokonferencji on-line z wykorzystaniem dedykowanych narzędzi. 

Uczestnicy dostają link do otwarcia sesji. 

Materiały dostępne w wersji elektronicznej.

Najbliższe szkolenie otwarte:

2600.00 zł netto
3198.00 zł brutto

Dokumenty do pobrania

Potrzebujesz pomocy?

Szkolenia otwarte

Dorota Dzioba

Dorota Dzioba

Starszy Specjalista ds. Realizacji Szkoleń i Konsultacji

Klaudia Kulka

Klaudia Kulka

Młodszy Specjalista ds. Realizacji Szkoleń i Konsultacji

Szkolenia zamknięte

Małgorzata Jakubiak

Małgorzata Jakubiak

Kierownik Działu Szkoleń i Konsultacji

Sylwia Smuga

Sylwia Smuga

Menadżer Projektów Szkoleniowych i Konsultacyjnych