MSARR-N-ONL

Analiza systemów pomiarowych - metoda R&R dla pomiarów niepowtarzalnych- szkolenie online

Metrologia i kontrola, laboratoria

Cele szkolenia

Metody oceny zdolności systemów pomiarowych (MSA) w przypadku pomiarów niepowtarzalnych (np. niszczących lub zmieniających wielkość mierzoną) wg wytycznych branży motoryzacyjnej (MSA-4). Przegląd i powtórka metod MSA dla pomiarów powtarzalnych. Monitorowanie stabilności systemów pomiarowych w przypadku pomiarów niepowtarzalnych, analiza „R&R” dla pomiarów niepowtarzalnych – ARM, RM, ANOVA. Przykłady, ćwiczenia z wykorzystaniem prostego sprzętu pomiarowego i arkuszy obliczeniowych.

Symbol szkolenia

MSARR-N-ONL

Dostępna wersja stacjonarna

Terminy i miejsce

Dokumenty do pobrania

Karta zgłoszeń Katalog szkoleń otwartych TQMsoft 2024 II

Czas trwania: 3 dni po 8 godz.

Program i ćwiczenia

1. Zdolność systemu pomiarowego.

2. Przyczyny zmienności wyników pomiarów, pojęcie błędu i niepewności pomiaru.

3. Niepewność pomiaru a podejmowanie decyzji w procesie produkcji - skutki błędów pomiaru dla kontroli jakości i dla sterowania procesem.

4. Składniki zmienności, wskaźniki i wymagania – powtórka.

5. Niepoprawność wskazań (błąd systematyczny).

6. Błędy przypadkowe: powtarzalność (EV), odtwarzalność (AV), niepewność standardowa (powtarzalność i odtwarzalność R&R).

7. Zmienność całkowita (TV) a zmienność własna procesu (PV).

8. Rozdzielczość i rozróżnialność (ndc).

9. Wskaźniki zdolności i wymagania dla zadań pomiarowych związanych z kontrolą jakości lub sterowaniem procesem.

10. Krótkoterminowa i długoterminowa stabilność systemu pomiarowego: karty kontrolne SPC w zastosowaniu do monitorowania systemu pomiarowego.

11. Metodyka badań zdolności systemów pomiarowych.

12. Analiza „R&R” metodą średnich i rozstępów (ARM) dla pomiarów „powtarzalnych” – powtórka (wg MSA-4).

13. Przypadek pomiaru „niepowtarzalnego” – problemy z określeniem źródeł zmienności.

14. Metody monitorowania stabilności systemów pomiarowych dla pomiarów powtarzalnych (procedury S1, S2) oraz niepowtarzalnych (procedury S3, S4, S5a, S5b).

15. Pojęcie próbki „homogenicznej”, metody pozyskiwania / przygotowywania.

16. Metody badania zdolności systemu pomiarowego w przypadku pomiarów niepowtarzalnych: procedury V3, V3a, V4 – analiza „R&R” z użyciem metody ARM (średnich i rozstępów) „ANOVA Crossed” (krzyżowa) i „ANOVA Nested” (zagnieżdżona).

17. Problemy i ograniczenia w interpretacji negatywnych wyników analiz.

Ćwiczenia:

Analiza R&R metodą średnich i rozstępów (ARM) – analiza przypadku (powtórka).
Projektowanie i wykorzystanie kart kontrolnych X-mR, z-R, Xśr-R do monitorowania długoterminowej stabilności systemu pomiarowego (procedury S1, S3, S4, S5a) – rozwiązywanie przypadków indywidualne lub zespołowe (Excel) w celu zrozumienia sposobu i zakresu stosowania kart stabilności.
Ocena zdolności przyrządu dla zadania pomiarowego typu „orzekanie zgodności ze specyfikacją” oraz do zastosowań w SPC w celu nabycia umiejętności doboru metody i wykonania badania.
Procedura V3 oraz V3a (test-retest study) – rozwiązanie przypadku, ćwiczenie obliczeniowe (Excel).
Analiza R&R metodą „Anova Nested” (procedura V4) – przygotowanie próbki homogenicznej, własnoręczne pomiary i analiza wyników (oprogramowanie MSA).

W przypadku szkoleń zamkniętych: ćwiczenia wykonywane mogą być na bazie próbki wyrobów Klienta; wymaga to wcześniejszego przygotowania próbki przez Klienta w uzgodnieniu z trenerem.

Korzyści dla przedsiębiorstwa

· Możliwość identyfikacji słabych punktów kontrolnych w kontroli dostaw, w toku procesu produkcyjnego oraz w kontroli końcowej, szczególnie dla właściwości (charakterystyk) specjalnych.

· Uzyskanie danych do określenia przyczyn nieskutecznej kontroli i ich redukcji, a przez to poprawa jakości dostaw do klienta.

· Ocena trafności doboru metod pomiarowych dla sterowania procesem, a przez to redukcja kosztów błędnych interwencji w procesie produkcyjnym.?

Adresaci

· Osoby odpowiedzialne za nadzór nad wyposażeniem kontrolno – pomiarowym.

· Pracownicy izb pomiarów i laboratoriów pomiarowych / badawczych.

· Osoby odpowiedzialne za planowanie, skuteczność, organizację kontroli jakości lub SPC.

· Osoby odpowiedzialne za dobór przyrządów / metod kontroli wyrobu / nadzorowania procesu.

· Auditorzy wewnętrzni, auditorzy II strony (dostawców), auditorzy III strony (certyfikujący) – szczególnie wg wymagań IATF 16949.

· Osoby uczestniczące lub prowadzące projekty Six-Sigma (Green Belt, Black Belt).

· Osoby odpowiedzialne za planowanie, skuteczność, organizację kontroli jakości, w tym dobór i nadzór kontrolerów.

· Osoby odpowiedzialne za jakość dostaw / dostawców.

· Szefowie jakości, pracownicy działów jakości, inżynierowie jakości.

· Inżynierowie procesu.

· Osoby odpowiedzialne za nowe projekty / wdrożenia nowych wyrobów.

· Osoby odpowiedzialne za PPAP w przedsiębiorstwie, szczególnie za raporty MSA.

Zastosowanie

Analiza zdolności systemów pomiarowych (MSA – Measurement System Analysis) stanowi istotne uzupełnienie okresowego sprawdzania / wzorcowania przyrządów. Pozwala ona na ocenę zdatności danego systemu pomiarowego do wykonywania zadania pomiarowego określonego przez: mierzoną właściwość (jej wartość, tolerancję i zmienność w procesie produkcji), umiejętności operatorów, warunki (zakłócenia) zewnętrzne oraz procedurę pomiarową.
Wyniki analizy mogą przyczynić się do istotnej redukcji ryzyka reklamacji i kosztów braków dzięki identyfikacji systemów pomiarowych będących źródłem błędnych decyzji o zwolnieniu wyrobu (lub akceptacji procesu).
Najczęściej stosowaną i najbardziej uniwersalną metodą oceny zdolności systemów pomiarowych jest analiza „R&R”, która w sytuacji pomiarów „niepowtarzalnych” (np. pomiary twardości, chropowatości, wytrzymałości, momentów dokręceń czy badania niszczące) wymaga modyfikacji polegającej m.in. na odpowiednim przygotowaniu próbek.
W zakresie MSA mieści się też monitorowanie długoterminowej stabilności systemów pomiarowych (adoptowanymi z SPC metodami), które w porównaniu z okresowym sprawdzaniem/wzorcowaniem lub okresowo wykonywaną analizą „R&R” zapewniają nieporównanie większą skuteczność wykrywania problemów związanych z systemami pomiarowymi w czasie procesu produkcyjnego lub kontrolnego

Opinie użytkowników

"Duża fachowość prowadzącego""Gorąco polecam! Szkolenie w pełni wyczerpało moje oczekiwania i pozwoliło lepiej zrozumieć niełatwe niuanse związane ze statystyką. Prowadzący po prostu super gość!""Temat przedstawiony w zrozumiały sposób, przykłady i odniesienia do zagadnień praktycznych. Profesjonalizm prowadzącego."