Ocena i zapewnienie jakości danych pomiarowych to podstawa wszystkich dalszych działań i analiz w zakresie kwalifikacji, oceny zachowania czy też doskonalenia procesu. Bez „dobrych” danych pozyskanych poprzez pomiar nie ma dobrego dalszego wnioskowania i podejmowania właściwych decyzji.
Liczba artykułów z tym tagiem:
6
W roku 2021 ukazały się Podręczniki Referencyjne RM 13006 „Process Control Methods” oraz RM 13003 „Measurement Systems Analysis” stanowiące uzupełnienie, rozwinięcie, szeroką wykładnię i interpretację wymagań odnośnie SPC i MSA zawartych w wydanej w tym samym roku normie AS 13100 „AESQ Quality Management System Requirements for Aero Engine Design and Production Organisations”.
Przedmiotem Statystycznego Sterowania Procesem (SPC) jest ocena zachowania procesu ze względu na zmienność. Same narzędzia SPC nie mogą i nigdy nie zastąpią tej wiedzy o procesie, która wynika przede wszystkim z wykształcenia i doświadczenia. Prawdziwe, rzeczywiste, „żywe” SPC to połączenie technicznej i technologicznej znajomości procesu z informacjami dostarczanymi przez narzędzia SPC.
Co ciekawe - wybierając rozwiązanie mniej ryzykowne i tańsze, czyli bieżące nadzorowanie stabilności systemów / procesów pomiarowych, nie rezygnujemy z okresowej oceny zdolności systemów pomiarowych – robimy to równocześnie, „przy okazji”. Dane zbierane w trakcie prowadzenia kart kontrolnych nadzorujących systemy pomiarowe pozwalają bowiem wyznaczyć praktycznie wszystkie wskaźniki zdolności, i to za wybrany okres czasu: Cg, Cgk, %EV, %AV, %GRR, ndc.
Celem kart kontrolnych jest porównanie bieżącego stanu procesu ze zmiennością własną procesu, a nie tylko ze specyfikacjami, odróżnienie tego co losowe w procesie, od tego co jest specjalne i jak najszybsze wykrycie nienaturalnych zmienności procesu. Błędna interpretacja zmienności powoduje że karta staje się narzędziem nieprzydatnym do sterowania procesem, a jej stosowanie „wymuszone” jest często przez wymagania normy czy klienta.
W procesie zwolnienia części dostawcy pieczołowicie przygotowują pierwsze wzorce, mierzą je...